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场发射透射电子显微镜（JEM-F200）

发布时间：2023-04-13    作者：    浏览次数：


D0C3

一、功能特色

本设备搭载场发射电子枪，能达到更高的分辨率。自动化测角台，可实现自动进出样品杆。配备超级能谱仪，能实现快速高精度EDS分析，搭配STEM模式，可进行点、线、面的EDSMapping分析。搭载Gatan底插Rio16相机，能拍摄得到更清晰的高分辨图像。


二、技术参数

电子枪类型：热场发射枪

加速电压：80 – 200 kV

TEM点分辨率：0.23 nm

TEM线分辨率：0.1 nm

STEM分辨率：0.16 nm

放大倍率：MAG模式2000–2M倍；STEM模式100–150M倍

相机：Gatan Rio16相机

能谱：JED-2300T超级能谱仪


三、应用领域

透射电子显微镜已被广泛用于金属材料、半导体材料、有机复合材料等的形貌拍摄和结构表征。JEM-F200因具有较高的分辨率，在材料的形貌拍摄、晶体结构表征、样品元素分析等方面可以发挥出重要作用。